ASTM E2244-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法

时间:2024-05-14 03:09:41 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9094
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforIn-PlaneLengthMeasurementsofThin,ReflectingFilmsUsinganOpticalInterferometer
【原文标准名称】:用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
【标准号】:ASTME2244-2005
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E08.05
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:影片;干涉仪;长度测量;光学的;摄影;刨刀;薄膜
【英文主题词】:cantilevers;combinedstandarduncertainty;deflectionmeasurements;fixed-fixedbeams;interferometry;lengthmeasurements;microelectromechanicalsystems;MEMS;polysilicon;residualstrain;straingradient;teststructure
【摘要】:In-planelengthmeasurementsareusedincalculationsofparameters,suchasresidualstrainandYoungrsquo;modulus.In-planedeflectionmeasurementsarerequiredforspecificteststructures.Parameters,includingresidualstrain,arecalculatedgiventhesein-planedeflectionmeasurements.1.1Thistestmethodcoversaprocedureformeasuringin-planelengths(includingdeflections)ofpatternedthinfilms.Itappliesonlytofilms,suchasfoundinmicroelectromechanicalsystems(MEMS)materials,whichcanbeimagedusinganopticalinterferometer.1.2Thereareotherwaystodeterminein-planelengths.Usingthedesigndimensionstypicallyprovidesmoreprecisein-planelengthvaluesthanusingmeasurementstakenwithanopticalinterferometer.(Interferometricmeasurementsaretypicallymoreprecisethanmeasurementstakenwithanopticalmicroscope.)Thistestmethodisintendedforusewheninterferometricmeasurementsarepreferredoverusingthedesigndimensions(forexample,whenmeasuringin-planedeflectionsandwhenmeasuringlengthsinanunprovenfabricationprocess).1.3Thistestmethodusesanon-contactopticalinterferometerwiththecapabilityofobtainingtopographical3-Ddatasets.Itisperformedinthelaboratory.1.4Themaximumin-planelengthmeasuredisdeterminedbythemaximumfieldofviewoftheinterferometeratthelowestmagnification.Theminimumdeflectionmeasuredisdeterminedbytheinterferometerspixel-to-pixelspacingatthehighestmagnification.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:G81
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:11P.;A4
【正文语种】:


【英文标准名称】:Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices-Part4:Codingsystemandclassificationintoformsofpackageoutlinesforsemiconductordevicepackages
【原文标准名称】:半导体器件的机械标准化.第4部分:半导体器件封装外壳形式的分类和编码系统
【标准号】:IEC60191-4Edition2.2-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47D
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:特性;型式;电子工程;编码;分类;后缀;符号;前缀;名称与符号;电子设备及元件;电气外壳;电气工程;作标记;半导体;代码;半导体器件;集成电路;形状;形状;系统;外壳
【英文主题词】:
【摘要】:Describesamethodforthedesignationandtheclassificationintoformsofpackageoutlinesforsemiconductordevices.Providesasystematicmethodforgeneratinguniversaldescriptivedesignatorsforsemiconductorpackages.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:22P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:内螺纹工艺底孔用套量头单头通端光滑塞规 M42~M80
中标分类: 机械 >> 工艺装备 >> 量具与量仪
发布日期:1986-10-25
实施日期:1987-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:7页
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所属分类: 机械 工艺装备 量具与量仪