DIN EN 302085-2001 固定无线电系统.点对多点天线.在3GHz至11GHz频带范围上运行的点对多点固定无线电系统用天线
时间:2024-05-03 23:47:26 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8528
【英文标准名称】:FixedRadioSystems-Point-to-MultipointAntennas-Antennasforpoint-to-multipointfixedradiosystemsinthe3GHzto11GHzband(EndorsementoftheEnglishversionEN302085V1.1.1(2000-06)asGermanstandard)
【原文标准名称】:固定无线电系统.点对多点天线.在3GHz至11GHz频带范围上运行的点对多点固定无线电系统用天线
【标准号】:DINEN302085-2001
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2001-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:频带;无线电装置;电信;规范(验收);无线电信号;无线电台;天线;无线电工程;电气工程
【英文主题词】:antennae;specification(approval);telecommunications;bandoffrequencies;radiostations;radiosystems;radiosignals;electricalengineering;radioengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:M36
【国际标准分类号】:33_120_40
【页数】:1P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
标准名称: | 食品中总汞及有机汞的测定 |
英文名称: | Determination of total mercury and organic-mercury in foods |
中标分类: |
医药、卫生、劳动保护 >>
卫生 >>
食品卫生 |
ICS分类: |
食品技术 >>
食品综合
|
替代情况: | GB/T 5009.17-1996 GB/T 5009.45-1996部分 |
发布部门: | 中华人民共和国卫生部 中国国家标准化管理委员会 |
发布日期: | 2003-08-01 |
实施日期: | 2004-01-01 |
首发日期: | 1985-05-16 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 卫生部 |
归口单位: | 卫生部 |
起草单位: | 卫生部食品卫生监督检验所 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 14页 |
适用范围
本标准规定了各类食品中总汞的测定方法。本标准适用于各类食品中总汞的测定。原子荧光光谱分析法:检出限0.15μg/kg,标准曲线最佳线性范围0μg/L~60μg/L;冷原子吸收法的检出限:压力消解法为0.4μg/kg,其他消解法为10μg/kg;比色法为25μg/kg。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 卫生 食品卫生 食品技术 食品综合
基本信息
标准名称: | 硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法 |
英文名称: | Test method for the surface quality of polished silicon wafers and epitaxial wafers by optical-reflection |
中标分类: |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金相检验方法 |
ICS分类: |
电气工程 >>
半导体材料
|
发布部门: | 国家技术监督局 |
发布日期: | 1997-01-02 |
实施日期: | 1998-08-01 |
首发日期: | 1997-12-22 |
作废日期: | 2005-10-14 |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
归口单位: | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
起草单位: | 南开大学,天津市半导体材料厂 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-04-12 |
页数: | 平装16开, 页数:10, 字数:15千字 |
书号: | 155066.1-14930 |
适用范围
本标准规定了半导体硅抛光片和外延片表面常见缺陷的光反射无损检验方法。本标准适用于半导体硅抛光片和外延片表面质量的无损检验。本标准的检验结果与GB/T 6624、GB/T 14142的检验结果一致。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金相检验方法 电气工程 半导体材料