基本信息
| 标准名称： | 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 |
| 英文名称： | Methods of measurement for junction capacitance of light-emitting devices |
| 中标分类： | 能源、核技术 >> 能源、核技术综合 >> 技术管理 |
| ICS分类： | 电子学 >> 光电子学、激光设备 |
| 替代情况： | 被SJ/T 11394-2009代替 |
| 发布日期： | 1983-08-15 |
| 实施日期： | 1984-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 1页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 能源 核技术 能源 核技术综合 技术管理 电子学 光电子学 激光设备